ผู้เชี่ยวชาญด้านการู้คืนข้อมูลจากเยอรมันได้ยืนยันกับสื่อว่าแฟลชไดรฟ์ในปัจจุบันมีคุณภาพที่ลดลง ส่วนหนึ่งมาจากการใช้ชิปที่มีคุณภาพต่ำ รวมถึงการเก็บข้อมูลหลายบิตต่อแฟลชเซลล์เองก็มีส่วนเช่นกัน
CBL Data Recovery ระบุว่าคุณภาพของส่วนประกอบหน่วยความจำรุ่นใหม่ที่ถูกใช้ใน microSD และแฟลชไดรฟ์มีคุณภาพที่ลดลง และยังมีการค้นพบว่าแฟลชไดรฟ์ที่เดิมเคยมีโลโก้ของผู้ผลิต NAND ถูกลบออกจากชิปกำลังพบในห้องปฏิบัติการสำหรับการกู้คืนข้อมูลมากขึ้น เป็นไปได้ว่าชิปจาก ผู้ผลิตอย่าง SK hynix, Sandisk หรือ Samsung ที่ไม่ผ่านการตรวจสอบการควบคุมคุณภาพหรือ QC ถูกขายต่ออีกที แต่ระบุว่าเป็นชิปที่มีหน่วยความจำน้อยกว่าปกติ
“เมื่อเราเปิดดูข้างในของแฟลชไดรฟ์ที่มีปัญหาในปีที่แล้ว เราพบว่าชิปหน่วยความจำที่ด้อยคุณภาพจำนวนมากมีความจุลดลงจากมาตรฐาน และโลโก้ของผู้ผลิตก็ถูกลบออกจากชิป” Conrad Heinicke กรรมการผู้จัดการ CBL กล่าว
นอกจากนี้ยังมีประเด็นสถาปัตยกรรมเซลล์หลายระดับมาใช้ ทำให้เซลล์มีการเก็บข้อมูลมากกว่า 1 บิต มีความหนาแน่นในการเก็บข้อมูลมากขึ้น และมีต้นทุนต่ำ ซึ่งผู้ผลิตมักจะเลือกใช้สถาปัตยกรรมนี้แต่เซลล์จะเสื่อมสภาพเร็วขึ้นเมื่อมีการจัดเก็บข้อมูลต่อเซลล์มากขึ้นกว่าเดิม
ที่มา The Register
